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原子力顯微鏡(AFM)的工作原理是什麽?

回應者:匿名用戶時間:2010-02-25哪裏可以找到最好的生命科學學術交流論壇?& gt& gt& gt原子力顯微鏡(AFM)設計於1986。它主要是通過檢測針尖與樣品之間的原子間作用力來獲得樣品表面的微觀信息,因此不要求樣品具有導電性。AFM的工作原理是將對微弱力非常敏感的微懸臂梁壹端固定,另壹端安裝探針。微懸臂梁的尖端輕輕接觸樣品表面,針尖尖端的原子與樣品表面的原子之間微小的排斥力使微懸臂梁向上彎曲。通過在光學探測器上檢測從微懸臂梁背面反射回來的激光光斑的位置變化,可以轉化為力的變化,因為反射光斑的位置變化或者微懸臂梁的彎曲變化與力的變化成正比。微懸臂梁的彎曲是多種力相互作用的結果,其中最常見的是範德華力。針尖和樣品表面之間的小距離會產生不同的範德華力。通過控制掃描過程中針尖的恒力,測量針尖的縱向位移,可以獲得樣品表面的微觀信息。

AFM有兩種工作模式:恒力模式和恒高模式。在恒力模式下,通過精確控制掃描頭隨著樣品表面形貌的變化在縱向上下移動,使作用在微懸臂梁上的力恒定,由掃描頭的縱向移動值得到樣品表面的形貌圖像。在恒高模式下,掃描頭的高度是固定的,樣品的表面信息直接從微懸臂梁在空間的偏轉信息中獲得。SPM具有高分辨率、連續、動態檢測各種環境(真空、氣體和液體)下物體微觀信息的特點,已迅速應用於生命科學研究。SPM最早用於研究生物大分子(DNA、蛋白質等)的結構和功能。),並在該領域積累了豐富的數據。

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