Bist是內置的自測，壹般包括rambist、flashbist等。它是內部集成的專用測試算法，還包括測試控制電路、輸出結果比較電路等。它是芯片中的實際電路。
掃描是壹種結構測試，將芯片的內部寄存器替換為特殊寄存器，然後連接成1鏈或多鏈。這種方法只需要在輸入端輸入模式，在輸出端比較輸出。它不關心芯片的功能，可以節省大量的測試用例開發時間，減少測試時間。