ISSG氮化工藝與傳統爐管氧化膜氮化工藝的主要區別在於N集中的位置不同。ISSG氮化工藝將等離子體N+註入到多晶矽柵與SiQ 2的界面,不會增加SiQ 2與Si襯底的界面態,從而顯著提高NBTI效應。而傳統的爐管氧化膜氮化是用NO或N2O向SiQ 2與Si襯底的界面註入N,使SiQ 2與Si的界面態會增大,從而增強NBTI效應。二氧化矽薄膜在集成電路中有著廣泛的應用,可用作MOS管的柵氧化層材料,也可用作集成器件之間的絕緣介質。ISSG(In-Situ Steam Generation),全稱是原位蒸汽發生,是壹種新型低壓快速熱氧化工藝(RTP)。目前,ISSG主要用於生長超薄氧化膜、犧牲氧化層和制備氧氮化物薄膜。數據表明,ISSG工藝及其相關氮化工藝能明顯提高NBTI效果。由於原子氧的強氧化作用,ISSG工藝最終得到的氧化膜體中缺陷較少,界面態密度較低,質量較高。
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